描述：HP4191A射頻阻抗分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
　　主要用途 　　測(cè)試材料的阻抗Z，導(dǎo)納Y，電感L，電阻R，介電損耗D，品質(zhì)因數(shù) 　　射頻阻抗計(jì)量器具檢定系統(tǒng) 　　VerificationSchemeofRF 　　ImpedanceMeasuringInstruments　JJG2011-87 　　代替：高頻阻抗量值傳遞系統(tǒng) 　　射頻阻抗計(jì)量器具檢定系統(tǒng) 　　本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計(jì)量器具（即檢測(cè)20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件），規(guī)定了射頻（習(xí)慣上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計(jì)量器具的檢定方法。 　　一、計(jì)量基準(zhǔn)器具 　　1、高頻集總參數(shù)阻抗的國(guó)家計(jì)量基準(zhǔn)器具是指用于復(fù)現(xiàn)和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括電介質(zhì)材料的復(fù)數(shù)介電常數(shù)和軟磁材料的復(fù)數(shù)導(dǎo)磁率）的計(jì)量設(shè)備和量具。 　　2、射（高）頻集總參數(shù)阻抗計(jì)量基準(zhǔn)器具包括： 　　空氣介質(zhì)同軸線阻抗基準(zhǔn)，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經(jīng)理論計(jì)算求得。它用以校準(zhǔn)按反射系數(shù)測(cè)量原理設(shè)計(jì)的高頻阻抗精密測(cè)量裝置。空氣介質(zhì)同軸線也是微波阻抗國(guó)家基準(zhǔn)，本檢定系統(tǒng)移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統(tǒng)一。在（1-1000）MHz頻段，其技術(shù)指標(biāo)為： 　　反射系數(shù)模值｜г｜±；相角：±180°±°。 　　高頻阻高頻阻抗精密測(cè)量裝置，它是利用從美國(guó)引進(jìn)的HP4191A高頻阻抗分析儀，經(jīng)過準(zhǔn)確度論證分析，保證高頻集總參數(shù)阻抗量的以下計(jì)量工作性能： 　　頻率：（1-1000）MHz 　　反射系數(shù)模值｜г｜±（） 　　相角θ：±180°±°； 　　阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（）％ 　　電容C：10pF-100nF±（）％； 　　電感L：10nH-100μH±（）％ 　　損耗：tgδ（D）±＜（） 　　二、高頻集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn) 　　3、集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)包括： 　　高頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)件50Ω，0Ω，0S。它們由國(guó)家基準(zhǔn)通過直接比對(duì)法傳遞量值，技術(shù)特性如下： 　　50Ω：｜г｜≤；0Ω：殘余阻抗小于2mΩ；0S：邊緣電容值。 　　這些標(biāo)準(zhǔn)件用以校準(zhǔn)按電壓電流比原理設(shè)計(jì)的高頻阻抗分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻抗測(cè)量?jī)x器（校準(zhǔn)中還需使用直流以和低頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)伯）。并由50Ω阻抗件組成模擬損耗件校準(zhǔn)Q值、tgδ值等標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。 　　高頻、低頻阻抗分析儀。這些是市售商品高準(zhǔn)確度阻抗測(cè)量?jī)x器，也用作計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，用以定標(biāo)低準(zhǔn)確度的阻抗標(biāo)準(zhǔn)量具。其技術(shù)指標(biāo)為： 　　頻率：20kHz-1000MHz； 　　阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20％）； 　　電容C：10pF-100nF±（）％； 　　電感LμH±（）％。
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